當(dāng)前位置:上海五久自動化設(shè)備有限公司>產(chǎn)品中心>濁度計 > 立式接觸式干涉儀 JDS1
立式接觸式干涉儀 JDS1
一、儀器用途
本儀器是是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規(guī),亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量,是各計量室的基本長度計量儀器。
立式接觸式干涉儀JDS-1
技術(shù)參數(shù):
1、被測件大長度:150 mm
2、工作臺行程:5 mm
3、測桿移動范圍:0.5mm
4、分劃板刻度范圍:±50格
5、直接測量范圍:5-20μm
6、分度值調(diào)整范圍:0.05-0.2 μm
7、推薦使用分度值:0.1 μm
8、測量壓力:(1.5±0.1) N
9、儀器示值穩(wěn)定性:0.02 μm
10、儀器誤差:±(0.03+1.5ni △λ/λ)um
n 是格數(shù), i是格值,λ是濾光片中心波長,△λ是濾光片波長誤差
11、儀器體積:280×500×700 mm
12、儀器重量:40 kg
標(biāo)準(zhǔn)配件:
1、五筋園臺
2、九筋瑪瑙臺
3、可調(diào)園平臺
4、輔助臺
5、平面測帽 Ф2
6、小球面測帽
7、干涉濾光片
SLF-C-1 |
SLF-C-2 |
YBLX-KLT2-1 |
YBLX-KLT2-2 |
YBLX-KLT2-I |
YBLX-KLT2-II |
KHJ0.3/24 |
KHJ0.05/12 |
KHJ0.5/12 |
KHJ1/12L |
KHJ-3/24 |
ZWL2-I-C2 |
ZWL2-II-C2 |
LXB-02GKK |
SFXL-I |
SFXL-II |
SP-2DM |
SP-2DMS |
ZGLS-Z |
更新時間:2024/8/26 16:47:55
標(biāo)簽:立式接觸式干涉儀 JDS1 SLF-C-1 SLF-C-2 YBLX-KLT2-1 YBLX-KLT2-2 YBLX-KLT2-I YBLX-KLT2-II KHJ0.3/24 KHJ0.05/12 KHJ0.5/12 KHJ1/12L KHJ-3/24 ZWL2-I-C2 ZWL2-II-C2 LXB-02GKK SFXL-I SFXL-II SP-2DM SP-2DMS ZGLS-Z