當(dāng)前位置:上海五久自動化設(shè)備有限公司>產(chǎn)品中心>粗糙度儀，光澤度儀 > 表面粗糙度儀SE3500K
SE3500K表面粗糙度儀
ハイレベルな表面粗さ測定機(jī)に、三次元表面粗さ測定機(jī)能を付加したもので、対象表面を「線と面」で深く評価できます。
二次元粗さ
多様なパラメータに対応
縦軸と橫軸の自動校正ができます。
自動で測定から印刷まで実行
三次元粗さ
データ採取と解析を並列処理できます。
三次元粗さ形狀を鳥瞰図や濃淡図で記録できます。
1億ポイントのサンプリングで、高分解能で測定
二次元粗さ
測定規(guī)格 JIS（2001/94/82）、DIN、ISO、ASME
測定範(fàn)囲 Z：600μm X：100mm
測定倍率 縦：50～500,000 橫：1～5,000
記録 自由レイアウトで記録できます。
三次元粗さ
測定範(fàn)囲 Z：600μm X：100mm Y：50mm
サンプリング*小間隔 X,Yとも1μm
記録 カラー記録（鳥瞰図、微分濃淡図等）、粒子解析、三次元粗さパラメータ解析多數(shù)
XTZ-02 變倍體視顯微鏡 XTZ-02 XTZ02 變倍體視顯微鏡 XTZ-01 變倍體視顯微鏡 XTZ-01 XTZ01 變倍體視顯微鏡 XTZ-EAV 變倍體視顯微鏡 XTZ-EAV 變倍體視顯微鏡 XTZ-EAS 變倍體視顯微鏡 XTZ-EAS 變倍體視顯微鏡 XTZ-EAC 體視顯微鏡 XTZ-EAC 體視顯微鏡 XTZ-EA 體視顯微鏡 XTZ-EA 體視顯微鏡 XTZ-DA 體視顯微鏡 XTZ-DA 體視顯微鏡 XTZ-EAV 體視顯微鏡 XTZ-EAV 體視顯微鏡 XTZ-EAS 體視顯微鏡 XTZ-EAS 體視顯微鏡 XTZ-EAC 體視顯微鏡 XTZ-EAC 體視顯微鏡 XTZ-EA 體視顯微鏡 XTZ-EA 體視顯微鏡 XTZ-DA 體視顯微鏡 XTZ-DA 體視顯微鏡 XTZ-EV 體視顯微鏡 XTZ-EV 體視顯微鏡 XTZ-ES 體視顯微鏡 XTZ-ES 體視顯微鏡 XTZ-E 體視顯微鏡 XTZ-E 體視顯微鏡 XTZ-D 體視顯微鏡 XTZ-D 體視顯微鏡 XTT 體視顯微鏡 XTT 體視顯微鏡 PXS-B2040 滑板式、體視顯 PXS-B2040 滑板式、體視顯 PXS-B1040 滑板式、體視顯 PXS-B1040 滑板式、體視顯 PXS-B1030 滑板式、體視顯 PXS-B1030 滑板式、體視顯 PXS-B1020 滑板式、體視顯 PXS-B1020 滑板式、體視顯 PXS-A2040 立桿式、體視顯 PXS-A2040 立桿式、體視顯 PXS-A1040 立桿式、體視顯 PXS-A1040 立桿式、體視顯 PXS-A1030 立桿式、體視顯 PXS-A1030 立桿式、體視顯 PXS-A1020 立桿式、體視顯 PXS-A1020
更新時間：2024/8/26 16:48:45
標(biāo)簽：SE3500K
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