FS® XDVM-W測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE® XDVM®-W
FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。它杰出的特性包括:2組可切換的各帶4個(gè)視準(zhǔn)器的視準(zhǔn)器組,大的開槽的測(cè)量箱體確保工件放置簡便,精確的可編程的直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)的X-Y工作臺(tái)快速和無振動(dòng)移動(dòng)以及原始射線從上往下設(shè)計(jì)為在Z-軸可移動(dòng)的X-射線發(fā)生和接受裝置。
這個(gè)特性使得該系統(tǒng)非常適合于測(cè)量大批量生產(chǎn)的部件,例如螺絲,連接器插針或大的線路板。按動(dòng)按鈕就可根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試點(diǎn)定位進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量,并可自動(dòng)的進(jìn)行評(píng)估報(bào)告輸出。
其它不同版本的
儀器參見“技術(shù)詳細(xì)信息
"。
更新時(shí)間:2024/8/26 16:49:13
標(biāo)簽:FS® XDVM-W供應(yīng)商